基于像素单元的CMOS图像传感器辐射损伤机理研究
11005152
2010
A3001.粒子束与物质相互作用
李豫东
青年科学基金项目
研究员
中国科学院新疆理化技术研究所
24万元
定量分离及测试;APS;CMOS;像素单元;辐射损伤
2011-01-01到2013-12-31
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| 序号 | 标题 | 类型 | 作者 |
|---|---|---|---|
| 1 | 60Co 射线辐照 CMOS 有源像素传感器诱发暗信号退化的机理研究 | 期刊论文 | 汪波|李豫东|郭旗|刘昌举|文林| |
| 2 | CCD与CMOS图像传感器辐射效应测试系统 | 期刊论文 | 李豫东|汪波|郭旗| |
| 3 | CCD的辐射损伤参数测试方法 | 期刊论文 | 李豫东|张乐情|郭旗|陆妩|文林|张孝富| |
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