空间单粒子效应和充放电效应诱发星用存储器件“软错误”的异同规律及机理研究

11875060
2018
A3001.粒子束与物质相互作用
韩建伟
面上项目
研究员
中国科学院国家空间科学中心
66万元
软错误;航天器异常;单粒子效应;充放电效应
2019-01-01到2022-12-31
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序号 标题 类型 作者
1 集成电路单粒子锁定效应激光试验评估技术 奖励 韩建伟
2 单粒子效应及充放电效应诱发航天器故障的甄别与机理探讨 期刊论文 韩建伟;陈睿;李宏伟;朱翔
3 Study on the single-event upset sensitivity of 65-nm CMOS sequential logic circuit 期刊论文 Sai LI;Jianwei HAN;Rui CHEN;Shipeng SHANGGUAN;Yingqi MA;Xuan WANG
4 Experimental Study on the Space Electrostatic Discharge Effect and the Single Event Effect of SRAM Devices for Satellites 期刊论文 Xuan Wang;Di Wu;Runjie Yuan;Qian Chen;Yanan Liang;Jianwei Han
5 卫星典型轨道辐射环境动态模型与预警技术 奖励 韩建伟
6 Soft error mechanism in SOI D flip-flop induced by space electrostatic discharge 期刊论文 Run-Jie Yuan;Rui Chen;Jian-Wei Han;Xuan Wang;Qian Chen;Ya-Nan Liang;Jie Zhou
7 集成电路空间静电放电脉冲精确注入系统及测试方法 专利 韩建伟;袁润杰;王璇;陈睿;陈钱;梁亚楠;李宏伟
8 Comparative Experimental Study on Space Electrostatic Discharge Effect and Single Event Effect of 130nm SOI D Flip-flop Chains 期刊论文 Wang Xuan;Chen Rui;Han Jianwei;Yang Han;Yuan Runjie;Chen Qian;Liang Yanan;Cai Ying;Ma Yingqi;Cai Minghui
9 Comparative Study on the “Soft Errors” Induced by Single-Event Effect and Space Electrostatic Discharge 期刊论文 Rui Chen;Li Chen;Jianwei Han;Xuan Wang;Yanan Liang;Yingqi Ma;Shipeng Shangguan
10 一种多类型器件单粒子效应统筹监测系统及监测方法 专利 李悦;朱翔;马英起;陈睿;上官士鹏;韩建伟
11 一种器件单粒子效应薄弱点测绘甄别装置及方法 专利 朱翔;韩建伟;李悦;马英起;陈睿;上官士鹏
12 Comparative Study on the Transients Induced by Single Event Effect and Space Electrostatic Discharge 期刊论文 R.Chen;L.Chen;S.Li;X.Zhu;J.-W.Han
13 用于半导体器件瞬态辐射感生电荷的测量方法、系统及装置 专利 陈睿;韩建伟;李赛;陈钱;梁亚楠;马英起;上官士鹏;朱翔;李悦;王璇
14 脉冲激光诱发65 nm体硅CMOS加固触发器链的单粒子翻转敏感度研究 期刊论文 李赛;陈睿;韩建伟;马英起;上官士鹏;李悦;朱翔;梁亚楠;王璇
15 Research on the Synergistic Effect of Total Ionization and Displacement Dose in GaN HEMT Using Neutron and Gamma-Ray Irradiation 期刊论文 Rui Chen;Yanan Liang;Jianwei Han;Qihong Lu;Qian Chen;Ziyu Wang;Hao Wang;Xuan Wang;Runjie Yuan
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