宇航用双互锁存储单元单粒子翻转行为及在轨预计建模研究
序号 | 标题 | 类型 | 作者 |
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1 | Radiation Hardness Design and Test Verification of Program Configuration Module Based on Commercial Device | 会议论文 | 孙毅 |
2 | 商业航天元器件抗辐射性能保证研究 | 期刊论文 | 张洪伟;李鹏伟;孙毅 |
3 | 一种应用加固器件进行单粒子效应评估的试验方法 | 专利 | 罗磊;孙毅 |
4 | Heavy ion-and Proton-induced SEU Simulation and Error Rates Calculation in 0.15um SRAM-based FPGA | 会议论文 | 孙毅 |
5 | Design, Application, and Verification of the Novel SEU Tolerant Abacus-Type Layouts | 期刊论文 | 孙毅 |
6 | 粒子入射条件对28nm SRAM单元单粒子电荷共享效应影响的TCAD仿真研究 | 期刊论文 | 金鑫;唐民;于庆奎;张洪伟;梅博;孙毅;唐路平 |