基于扫描探针显微术的铁电材料纳米尺度多场耦合效应研究
序号 | 标题 | 类型 | 作者 |
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1 | Vibration analysis of atomic force microscope cantilevers in contact resonance force microscopy using Timoshenko beam model | 期刊论文 | Xilong Zhou;Pengfei Wen;Faxin Li |
2 | 扫描探针声学显微技术研究进展 | 期刊论文 | 周锡龙;李法新;付际 |
3 | Amplitude modulation atomic force microscopy based on higher flexural modes | 期刊论文 | Xilong Zhou;Rongshu Zhuo;Pengfei Wen;Faxin Li |
4 | 双模态振幅调制原子力显微术相互作用区转变研究 | 期刊论文 | 周锡龙;李法新 |