【60776034】半导体器件与电路的“响应型”损伤机理与实验研究国家自然基金项目

半导体器件与电路的“响应型”损伤机理与实验研究

项目批准号： 60776034

批准年份： 2007

学科分类： F0406.集成电路器件、制造与封装

项目负责人：柴常春

资助类别：面上项目

负责人职称：教授

依托单位：西安电子科技大学

资助金额： 30万元

关键词：薄弱环节;损伤机理;响应型损伤;器件与电路;固有特性

起止时间： 2008-01-01到2010-12-31

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序号	标题	类型	作者
1	Influence of the external component on the damage of the bipolar transistor induced by the electromagnetic pulse	期刊论文	Zhenyang, Ma\|Xingrong, Ren\|Yintang, Yang\|Xiaowen, Xi\|Jing, Wang\|Changchun, Chai\|
2	一种基于CMOS工艺的新型结构ESD保护电路	期刊论文	杨银堂\|张冰\|柴常春\|
3	Si基双极低噪声放大器的能量注入损伤与机理	期刊论文	冷鹏\|柴常春\|杨杨\|饶伟\|杨银堂\|张冰\|
4	Transient response of bipolar transistor under intense electromagnetic pulse on collector	会议论文	Chai, Changchun\|Xi, Xiaowen\|Ren, Xingrong\|Yang, Yintang\|Zhang, Bing\|
5	Design of a novel dual pathway esd protection device using ISE-TCAD	会议论文	Zhang, Bing\|Ding, Ruixue\|Xi, Xiaowen\|Chai, Changchun\|
6	集成Si基低噪声放大器的注入损伤研究	会议论文	张冰\|冷鹏\|任兴荣\|柴常春\|
7	源、漏到栅距离对次亚微米ggNMOS ESD保护电路鲁棒性的影响	期刊论文	杨银堂\|张冰\|柴常春\|
8	双极晶体管在强电磁脉冲作用下的损伤效应与机理	期刊论文	柴常春\|席晓文\|杨银堂\|任兴荣\|马振洋\|
9	The influence of package thermal resistance on the EMP injection damage effect of transistors	会议论文	Xingrong, Ren\|Yintang, Yang\|Zhenyang, Ma\|Lihua, Ren\|Changchun, Chai\|Jing, Wang\|
10	一种基于CMOS工艺的新型结构ESD保护电路	期刊论文	杨银堂\|张冰\|柴常春\|
11	Experimental Study on Energy Injection Damage of a GaAs Low Noise Amplifier with and without DC Bias	会议论文	Yang, Yintang\|Chai, Changchun\|Leng, Peng\|Zhang, Bing\|Yang, Yang\|Rao, Wei\|
12	The effect of injection damage on a silicon bipolar low-noise amplifier	期刊论文	Chai, Changchun\|Zhang, Bing\|Rao, Wei\|Leng, Peng\|Yang, Yintang\|Yang, Yang\|
13	Si基双极低噪声放大器的能量注入损伤与机理	期刊论文	冷鹏\|柴常春\|杨杨\|饶伟\|杨银堂\|张冰\|
14	A package method for reducing bus crosstalk in full chip ESD protection circuit	会议论文	Chai, Chang-Chun\|Yang, Yin-Tang\|Bing, Zhang\|
15	CMOS工艺芯片输入端ESD保护单元	专利	张冰; 杨银堂; 柴常春
16	EMP injection damage effects of a bipolar transistor and its relationship between the injecting voltage and energy	期刊论文	Zhang, Bing\|Hong, Xiao\|Ren, Xingrong\|Chai, Changchun\|Yang, Yintang\|Xi, Xiaowen\|
17	A Novel ESD Protection Circuit Applied in High-speed CMOS IC	会议论文	Chai, Changchun\|Yang, Yintang\|Zhang, Bing\|
18	EMP injection damage effects of a bipolar transistor and its relationship between the injecting voltage and energy	期刊论文	Zhang, Bing\|Hong, Xiao\|Ren, Xingrong\|Chai, Changchun\|Yang, Yintang\|Xi, Xiaowen\|
19	半导体器件和集成电路损伤能量阈值的实验方法	专利	柴常春; 杨银堂; 周军; 郁忠国; 张冰
20	The effect of passive component damage of an integrated Si bipolar low-noise amplifier under energy-injection	会议论文	Zhang, Bing\|Yang, Yang\|Ding, Ruixue\|Chai, Changchun\|Leng, Peng\|Ren, Xingrong\|

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