高平均功率连续激光作用下光学元件表面缺陷热效应演变特性研究
序号 | 标题 | 类型 | 作者 |
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1 | 光学元件残余应力无损检测技术概述 | 期刊论文 | 肖石磊;李斌成 |
2 | 高功率激光作用下光学元件非线性热效应研究 | 期刊论文 | 王天明;李斌成;赵斌兴;赵斌兴 |
3 | 一种光学元件微小应力的测量方法 | 专利 | 李斌成;肖石磊;王静;高椿明 |
4 | Precise measurements of super-high reflectance with cavity ring-down technique | 期刊论文 | Xiao Shilei;Li Bincheng;Wang Jing |
5 | 一种大口径光学元件激光预处理和吸收型缺陷成像检测的联合装置 | 专利 | 李斌成;孙启明 |
6 | 一种单层膜光学元件应力和光学损耗同时测量的方法 | 专利 | 李斌成;肖石磊;王静 |
7 | 一种大口径光学元件表面吸收型缺陷分布快速成像的方法 | 专利 | 李斌成;孙启明;樊俊琪 |
8 | 一种基于偏振光腔衰荡的激光晶体热应力双折射系数测量方法 | 专利 | 李斌成;王静;肖石磊 |
9 | CCD-Based Thermal Lensing for Fast Localization of Microscale Absorptive Defects on Large-Sized Laser Components | 期刊论文 | Li Liangjia;Li Bincheng;Sun Qiming |
10 | Residual stress birefringence of highly reflective mirrors with different numbers of layers | 期刊论文 | Xiao Shilei;Li Bincheng;Wang Jing |