数字信号处理VLSI实现的可测性设计研究

90407007
2004
F0402.集成电路设计
谢永乐
重大研究计划
教授
电子科技大学
25万元
硬件数字滤波器;低功耗设计;数字信号处理;可测性设计
2005-01-01到2007-12-31
  • 中英文摘要
  • 结题摘要
  • 结题报告
  • 项目成果
  • 项目参与人
查看更多信息请先登录或注册
查看更多信息请先登录或注册
查看更多信息请先登录或注册
重置
序号 标题 类型 作者
1 数字IP芯核的多特征比较内建自测 期刊论文 谢永乐; 王玉文;
2 超大规模集成电路可测性设计技术 会议论文 杨平勇,谢永乐
3 VLSI电路拓扑结构的描述及在可测 会议论文 林杨,钟丽,谢永乐
4 Fault Diagnosis in Analog Circ 期刊论文 Xie Yongle(谢永乐),Wang Chen
5 使用重复播种和Golomb编码的二维 期刊论文 胡兵; ; 谢永乐;
6 基于非线性电路频域核估计和神经 期刊论文
7 模拟集成电路参数型故障定位方法 期刊论文 谢永乐 李西峰
8 减少SOC测试时间的测试结构配置 期刊论文
9 数字逻辑设计及应用 专著 姜书艳,林水生 等
10 减少数字集成电路测试时间的扫描 期刊论文
11 进位保留阵列乘法器的一种内建自 期刊论文
12 基于交叉算法的神经网络模拟电路 期刊论文
13 IIR滤波器的测试及可测性设计 期刊论文
14 Path delay fault design-for-te 会议论文 Yang Decai, Chen Guangju, Xie
15 Low overhead design-for-testab 期刊论文 Yang Decai, Chen Guangju, Xie
16 学习策略实现的条件和加法器通路 期刊论文
17 模拟VLSI测试的小波滤波器组方法 期刊论文 谢永乐
18 基于SVIC编码的SOC测试数据压缩 期刊论文
19 FFT处理器的算术测试与可测性设 期刊论文 肖继学; ; 谢永乐;
20 Built-in self-test scheme for 会议论文 Yang Decai, Chen Guangju, Xie
21 Arithmetic test strategy for F 会议论文 Ji-Xue Xiao,Guang-Ju Chen, Yo
22 基于加法生成器的低功耗测试 期刊论文 肖继学;; 谢永乐;
23 IP芯核测试响应的零混叠空间压缩 期刊论文 谢永乐; 孙秀斌; 王玉文; 胡兵;
24 模拟集成电路参数型故障测试方法 期刊论文
25 .Functional Test with Single C 会议论文 Xie Yongle
26 VLSI流水化格型数字滤波器的内建 期刊论文
27 A research on IDDT test patter 会议论文 Jiang Shuyan,et al
28 数字集成电路的混合模式内建自测 期刊论文 谢永乐; 孙秀斌; 王玉文; 胡兵;
29 雷达故障诊断测试系统分层化建模 期刊论文 马敏; ; 谢永乐;
30 模拟VLSI电路故障诊断的子带特征 期刊论文 谢永乐; 李西峰;
31 Feature evalution and extracti 期刊论文 Yuan Hauying,,Xie Yongle
32 电子测量原理 专著 王厚军 古天祥 谢永乐
33 VLSI中加法器的一种高效自测试设 期刊论文
34 模拟VLSI电路故障诊断的相关分析 期刊论文
35 故障诊断中基于神经网络的特征提 期刊论文
36 基于变移霍夫曼编码的SOC测试数 期刊论文 胡兵; ; 谢永乐;
37 系统芯片的可测性设计与测试 期刊论文 谢永乐;
查看更多信息请先登录或注册