数字信号处理VLSI实现的可测性设计研究
序号 | 标题 | 类型 | 作者 |
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1 | 数字IP芯核的多特征比较内建自测 | 期刊论文 | 谢永乐; 王玉文; |
2 | 超大规模集成电路可测性设计技术 | 会议论文 | 杨平勇,谢永乐 |
3 | VLSI电路拓扑结构的描述及在可测 | 会议论文 | 林杨,钟丽,谢永乐 |
4 | Fault Diagnosis in Analog Circ | 期刊论文 | Xie Yongle(谢永乐),Wang Chen |
5 | 使用重复播种和Golomb编码的二维 | 期刊论文 | 胡兵; ; 谢永乐; |
6 | 基于非线性电路频域核估计和神经 | 期刊论文 | |
7 | 模拟集成电路参数型故障定位方法 | 期刊论文 | 谢永乐 李西峰 |
8 | 减少SOC测试时间的测试结构配置 | 期刊论文 | |
9 | 数字逻辑设计及应用 | 专著 | 姜书艳,林水生 等 |
10 | 减少数字集成电路测试时间的扫描 | 期刊论文 | |
11 | 进位保留阵列乘法器的一种内建自 | 期刊论文 | |
12 | 基于交叉算法的神经网络模拟电路 | 期刊论文 | |
13 | IIR滤波器的测试及可测性设计 | 期刊论文 | |
14 | Path delay fault design-for-te | 会议论文 | Yang Decai, Chen Guangju, Xie |
15 | Low overhead design-for-testab | 期刊论文 | Yang Decai, Chen Guangju, Xie |
16 | 学习策略实现的条件和加法器通路 | 期刊论文 | |
17 | 模拟VLSI测试的小波滤波器组方法 | 期刊论文 | 谢永乐 |
18 | 基于SVIC编码的SOC测试数据压缩 | 期刊论文 | |
19 | FFT处理器的算术测试与可测性设 | 期刊论文 | 肖继学; ; 谢永乐; |
20 | Built-in self-test scheme for | 会议论文 | Yang Decai, Chen Guangju, Xie |
21 | Arithmetic test strategy for F | 会议论文 | Ji-Xue Xiao,Guang-Ju Chen, Yo |
22 | 基于加法生成器的低功耗测试 | 期刊论文 | 肖继学;; 谢永乐; |
23 | IP芯核测试响应的零混叠空间压缩 | 期刊论文 | 谢永乐; 孙秀斌; 王玉文; 胡兵; |
24 | 模拟集成电路参数型故障测试方法 | 期刊论文 | |
25 | .Functional Test with Single C | 会议论文 | Xie Yongle |
26 | VLSI流水化格型数字滤波器的内建 | 期刊论文 | |
27 | A research on IDDT test patter | 会议论文 | Jiang Shuyan,et al |
28 | 数字集成电路的混合模式内建自测 | 期刊论文 | 谢永乐; 孙秀斌; 王玉文; 胡兵; |
29 | 雷达故障诊断测试系统分层化建模 | 期刊论文 | 马敏; ; 谢永乐; |
30 | 模拟VLSI电路故障诊断的子带特征 | 期刊论文 | 谢永乐; 李西峰; |
31 | Feature evalution and extracti | 期刊论文 | Yuan Hauying,,Xie Yongle |
32 | 电子测量原理 | 专著 | 王厚军 古天祥 谢永乐 |
33 | VLSI中加法器的一种高效自测试设 | 期刊论文 | |
34 | 模拟VLSI电路故障诊断的相关分析 | 期刊论文 | |
35 | 故障诊断中基于神经网络的特征提 | 期刊论文 | |
36 | 基于变移霍夫曼编码的SOC测试数 | 期刊论文 | 胡兵; ; 谢永乐; |
37 | 系统芯片的可测性设计与测试 | 期刊论文 | 谢永乐; |