面向NBTI退化效应的集成电路故障预测方法研究
61201015
2012
F0118.电路与系统
杨智明
青年科学基金项目
副教授
哈尔滨工业大学
25万元
退化效应;负偏置温度不稳定性;集成电路;故障预测
2013-01-01到2015-12-31
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| 序号 | 标题 | 类型 | 作者 |
|---|---|---|---|
| 1 | 基于线性规划的NBTI退化效应下最优漏电向量自适应选择方法 | 期刊论文 | 杨智明|俞洋|张成城|彭喜元| |
| 2 | 基于改进支持向量机方法的电子电路故障诊断方法 | 会议论文 | |
| 3 | 基于层次符号有向图的大型电子系统故障传播特性分析方法 | 会议论文 | |
| 4 | 基于偏置经验特征映射的电路故障诊断方法 | 期刊论文 | 杨智明|俞洋|乔立岩|王钢| |
| 5 | 基于图模型的复杂电子系统故障诊断方法 | 会议论文 |
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