考虑测试成本和版图成本的低功耗BIST的研究

61100031
2011
F0204.计算机系统结构与硬件技术
周彬
青年科学基金项目
副教授
哈尔滨工业大学
22万元
测试数据;测试功耗;扭换计数器（TRC）;内建自测试（BIST）;测试时间
2012-01-01到2014-12-31
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序号 标题 类型 作者
1 A Low Power Built-in Self-Test Scheme Based on Overlapping Bit Swapping Linear Feedback Shift Register 期刊论文 Bin Zhou|Xinchun Wu|Yu Sun|Tianqi Wang|Liyi Xiao|
2 A Low Power Test-per-Clock BIST Scheme Through Selectively Activating Multi Two-Bit TRCs, 会议论文 Bin Zhou, Xinchun Wu|
3 Combinational Logic Soft Error Analysis Methodology Considering Re-convergence with Multi Transient Pulses 会议论文 Bin Zhou|Jianwei Zhang|Shitian Tong|Tianqi Wang|Qun Wu|Mingxue Huo|Liyi Xiao|
4 3D Simulation of Heavy-Ion Induced Charge Collection in Sub-100nm MOS-FETs Using Strained Silicon-Germanium 会议论文 Bin Zhou|Ming Xue Huo|Tian Qi Wang|Jianwei Zhang|
5 A low cost acceleration method for hardware trojan detection based on fan-out cone analysis 会议论文 Zhou, Bin|Zhang, Wei|Thambipillai, Srikanthan|Teo, J.K.J.|
6 A Low Cost BIST Scheme Using LFSR-RC Reseeding 期刊论文 Bin Zhou, Ming-xue Huo, Xin-chun Wu|
7 Test Pattern Generation Based on Multi-TRC Scan Architecture for Reducing Test Cost 期刊论文 Bin Zhou|Yi-Zheng Ye|Xin-chun Wu|Bei Cao.|
8 A New Low Power Test Pattern Generator Based on Two-Bit Twisted Ring Counter 会议论文 Bin Zhou|Qun Wu|Li-yi Xiao|Xin-chun Wu|Bei Cao|
9 Analysis of process variations impact on the single-event transient quenching in 65nm CMOS combinational circuits 期刊论文 WANG TianQi|XIAO LiYi|Zhou Bin|Qi ChunHua|
10 A test set embedding approach based on twisted-ring counter with few seeds 期刊论文 Bin Zhou|Yi-Zheng Ye|Zhao-lin Li|Jiang-wei Zhang|Xin-chun Wu|Rui Ke|
11 二维测试数据压缩的优化 期刊论文 周彬|吴新春|叶以正|
12 基于二维测试数据压缩的BIST方案 期刊论文 周彬|叶以正|李兆麟|
13 Optimization of Test Power and Data Volume in BIST Scheme Based on Scan Slice Overlapping 期刊论文 Bin Zhou, Yi-Zheng Ye, Zhao-lin Li|
14 单粒子多脉冲的软错误敏感性分析方法 会议论文 周彬|霍明学|肖立伊|
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