针对数字集成电路中软错误与老化的协同防护
61404001
2014
F0402.集成电路设计
徐辉
青年科学基金项目
副教授
安徽理工大学
22万元
软错误;老化;关键路径;电路可靠性;防护
2015-01-01到2017-12-31
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| 序号 | 标题 | 类型 | 作者 |
|---|---|---|---|
| 1 | 一种抗老化消除浮空点并自锁存的老化预测传感器 | 期刊论文 | 徐辉;董文祥;易茂祥 |
| 2 | 基于故障插入的电路抗老化输入矢量生成研究 | 期刊论文 | 刘士兴;程龙;范对鹏;周光辉;易茂祥 |
| 3 | 基于关键路径与改进遗传算法的最佳占空比求解 | 期刊论文 | 徐辉;李丹青;应健锋;李扬 |
| 4 | 数字电路老化预测与容忍 | 专著 | 徐辉 |
| 5 | NBTI aging analysis and aging-tolerant design of p-type domino AND gatesp | 会议论文 | Zhang Lin;Yi Maoxiang;Yuan Ye;Gan Yingxian;Xu Hui |
| 6 | 一种容软错误的可编程老化预测传感器 | 期刊论文 | 汪康之;徐辉;洪炎;易茂祥 |
| 7 | 考虑NBTI的动态休眠管尺寸电源门控设计 | 期刊论文 | 袁野;易茂祥;张林;甘应贤;黄正峰;徐辉 |
| 8 | 一种可编程的老化感知触发器设计 | 期刊论文 | 徐辉;陈玲;汪康之 |
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