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高武
面上项目
项目编号:
11475136 【年份:2014】
项目名称:
用于辐射探测的纳米尺度抗辐射数字前端芯片设计方法研究
资助金额:
82万
单位名称:
西北工业大学
学科分类:
A2804.粒子探测技术
参与者:
西北工业大学
用于辐射探测的纳米尺度抗辐射数字前端芯片设计方法研究
项目批准号:
11475136
批准年份:
2014
学科分类:
A2804.粒子探测技术
项目负责人:
高武
资助类别:
面上项目
负责人职称:
教授
依托单位:
西北工业大学
资助金额:
82万元
关键词:
专用集成电路;纳米尺度;辐射探测;数字前端;抗辐射
起止时间:
2015-01-01到2018-12-31
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1
SENSROC11: a Low-Noise Analog Front-End Readout Circuit in 0.18 μm CMOS Technology for CZT/Si-PIN Detectors
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高武;高德远;胡永才
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期刊论文
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期刊论文
W. Gao;X. Li;S. Li;J. Yin;C. Li;D. Gao;Y. Hu
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