基于扫描自测试的扫描链构造技术
序号 | 标题 | 类型 | 作者 |
---|---|---|---|
1 | Cost-effective scan design wit | 会议论文 | D. Xiang, S. Gu, J. Sun, and D |
2 | Low Power Scan testing using a | 期刊论文 | |
3 | Compressing test data for dete | 会议论文 | D. Xiang, Y. Zhao, K. Chakraba |
4 | Compressing test data for dete | 会议论文 | D. Xiang, Y. Zhao, K. Chakraba |
5 | Using weighted scan enable sig | 期刊论文 | |
6 | A New Test Point Architecture | 期刊论文 | 向东,孙家广,李开伟 |
7 | Design for scan testing with l | 会议论文 | |
8 | Scan-based BIST using an impro | 会议论文 | |
9 | Partial scan design based on v | 期刊论文 | D. Xiang and J.H.Patel |
10 | Using weighted scan enable sig | 会议论文 | D. Xiang, M. Chen, and H. Fuji |
11 | Improving the effectiveness of | 期刊论文 | D. Xiang, M. J. Chen, J. G. Su |
12 | Generating compact robust and | 会议论文 | D. Xiang, K. Li, H. Fujiwara, |
13 | Cost-Effective Scan Architectu | 期刊论文 | |
14 | Reconfigured scan forest for t | 期刊论文 | D. Xiang, K. Li, J. Sun, and H |