低剂量率环境强电场下GaN HEMT器件缺陷长期演化行为研究
序号 | 标题 | 类型 | 作者 |
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1 | Applicability of the Accelerated ELDRS Test Method Temperature Switching Irradiation | 会议论文 | Xiaolong Li;Xin Wang;Mohan Liu;Xin Yu;Ying Wei;Qiwen Zheng;Jiangwei Cui;Yudong Li;Wu Lu;Qi Guo |
2 | 一种含有长期低剂量率辐照的复合环境试验加速方法 | 专利 | 李小龙;王信;刘默寒;于新;郑齐文;孙静;李豫东;郭旗;陆妩 |
3 | 一种总剂量条件下 GaN 高电子迁移率晶体管栅可靠性的仿真方法 | 专利 | 李小龙;王信;刘默寒;于新;税国华;林涛;魏莹;郑齐文;孙静;陆妩;李豫东;郭旗 |
4 | Investigation of Ionization-induced Parameter Degradation in GLPNP Bipolar Transistors at Different Temperatures | 期刊论文 | Chuanfeng Xiang;Xiaolong Li;Wu Lu;Xin Wang;Mohan Liu;Xin Yu;Jiao Cai;Ruiqin Zhang;Chengfa He;Mingzhu Xun;Haitao Liu;Wei Zhang;Gang Yu;Qi Guo |
5 | Influence of enhanced low dose rate sensitivity on single-event transient degradation in the LM158 bipolar operational amplifier | 期刊论文 | Xiang Chuanfeng;Yao Shuai;Lu Wu;Li Xiaolong;Yu Xin;Wang Xin;Liu Mohan;Sun Jing;Guo Qi |
6 | 模拟数字转换器AD574总剂量和单粒子翻转的协合效应 | 期刊论文 | 相传峰;姚帅;于新;李小龙;陆妩;王信;刘默寒;孙静;郭旗;蔡娇;杨圣 |
7 | Characterization of Radiation Tolerance of Bipolar Transistor with Al2O3 Dielectric at Different Dose Rates | 会议论文 | Xiaolong Li;Xin Wang;Zhikuan Wang;Kunfeng Zhu;Guohua Shui;Tao Lin;Qiwen Zheng;Yonghui Yang;Yudong Li;Wu Lu;Qi Guo |
8 | Estimation of Accelerated ELDRS Test Using Temperature-Switching Irradiation | 会议论文 | Xiaolong Li;Wu Lu;Xin Wang;Xin Yu;Jing Sun;Mohan Liu;Chengfa He;Qiwen Zheng;Yudong Li;Qi Guo |
9 | 一种实现半导体器件1/f噪声变温测试的方法及装置 | 专利 | 王信;李小龙;张晋新;玛丽娅•黑尼;刘默寒;李豫东;郭旗;陆妩 |