基于MSVR的星载固态存储主动式故障处理方法研究

61802088
2018
F0204.计算机系统结构与硬件技术
魏德宝
青年科学基金项目
副研究员
哈尔滨工业大学
20万元
错误特性预测模型;多维度支持向量回归;存储可靠性;星载存储系统;固态存储系统
2019-01-01到2021-12-31
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序号 标题 类型 作者
1 Prediction models of bit errors for NAND flash memory using 200 days of measured data 期刊论文 Wei Debao;Qiao Liyan;Chen Xiaoyu;Feng Hua;Peng Xiyuan
2 ZYNQ-Based Embedded Test Equipment with Interface Protocol User-Configurable Method 会议论文 Debao Wei;Lei Dong;Wang Liu;Xiyuan Peng
3 一种适配3D TLC型NAND闪存数据存储的双目标状态消除编解码方法 专利 魏德宝;张京超;朴哲龙;冯骅;乔立岩;彭喜元
4 SREA: A self-recovery effect aware wear-leveling strategy for the reliability extension of NAND flash memory 期刊论文 Wei Debao;Qiao Liyan;Chen Xiaoyu;Hao Mengqi;Peng Xiyuan
5 一种面向TLC型NAND Flash的阈值电压获取方法 专利 魏德宝;冯骅;乔立岩;陈肖钰;彭喜元
6 一种基于自恢复效应的NAND Flash存储可靠性优化方法 专利 魏德宝;乔立岩;郝梦琪;冯骅;彭喜元
7 FPGA-based reliability testing and analysis for 3D NAND flash memory 期刊论文 Wei Debao;Piao Zhelong;Feng Hua;Qiao Liyan;Peng Xiyuan
8 A joint-LDPC decoding scheme based on retention error characteristics for MLC NAND flash memory 期刊论文 Wei Debao;Deng Libao;Hao Mengqi;Qiao Liyan;Peng Xiyuan
9 Reliability prediction model of NAND flash memory based on random forest algorithm 期刊论文 Wei Debao;Qiao Liyan;Hao Mengqi;Feng Hua;Peng Xiyuan
10 Research on 3D TLC NAND flash reliability from the perspective of threshold voltage distribution 期刊论文 Wei Debao;Feng Hua;Chen Xiaoyu;Qiao Liyan;Peng Xiyuan
11 A high-efficiency threshold voltage distribution test method based on the reliability of 3D NAND flash memory 期刊论文 Wei Debao;Chen Xiaoyu;Feng Hua;Qiao Liyan;Peng Xiyuan
12 一种用于闪存胞元不可靠状态消除的等长编解码方法 专利 魏德宝;张京超;朴哲龙;冯骅;乔立岩;彭喜元
13 Experimental verification and analysis of the acceleration factor model for 3-D NAND flash memory 期刊论文 Wei Debao;Feng Hua;Qiao Liyan;Hu Cong;Peng Xiyuan
14 一种NAND Flash存储可靠性评估方法 专利 魏德宝;乔立岩;李绪金;郝梦琪
15 一种基于存储信道噪声频谱特征的闪存可靠性评估及失效预警方法 专利 魏德宝;张京超;冯骅;朴哲龙;乔立岩;彭喜元
16 一种基于Er态阈值电压分布的闪存误擦除数据恢复方法 专利 魏德宝;冯骅;乔立岩;朴哲龙;彭喜元
17 一种基于支持向量回归法的NAND Flash位错误率预测方法 专利 魏德宝;刘娜;乔立岩;陈肖钰;彭喜元
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