高密度铁电不挥发存储器用Bi4-xLaxTi3O12薄膜尺寸效应研究
90207025
2002
E02.无机非金属材料
胡广达
重大研究计划
教授
济南大学
30万元
Bi4-xLaxTi3O12薄.尺寸效应.高密度铁电不挥发
2003-01-01到2005-12-31
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| 序号 | 标题 | 类型 | 作者 |
|---|---|---|---|
| 1 | Tip effects of Piezoelectric-mode atomic force microscope for local piezoelectric measurements of an SrBi2Ta2O9 thin films | 专著 | Guangda Hu|Tingao Tang|Jianbin Xu| |
| 2 | Preparation of (100)-oriented LaNiO3 oxide electrodes for SBT-based ferroelectric capacitors | 专著 | Guangda Hu|Tingao Tang|Jianbin Xu| |
| 3 | Structural and ferroelectric properties of La modified Sr0.8Bi2.2Ta2O9 thin films | 专著 | Haifeng Shi|Yinyin Lin|Guangda Hu|Ting-Ao Tang| |
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