纳米CMOS集成电路抗老化性设计
61371025
2013
F0118.电路与系统
易茂祥
面上项目
教授
合肥工业大学
83万元
电路可靠性;关键路径;设计规则;抗老化性设计
2014-01-01到2017-12-31
- 中英文摘要
- 结题摘要
- 结题报告
- 项目成果
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| 序号 | 标题 | 类型 | 作者 |
|---|---|---|---|
| 1 | A Self-Recoverable, Frequency-Aware and Cost-Effective Robust LatchDesign for Nanoscale CMOS Technology | 期刊论文 | Aibin YAN;Huaguo LIANG;Zhengfeng HUANG;Cuiyun JIANG;Maoxiang Yi |
| 2 | Double-Node-Upset-Resilient Latch Design for Nanoscale CMOS Technology | 期刊论文 | Yan Aibin;Huang Zhengfeng;Yi Maoxiang;Xu Xiumin;Ouyang Yiming;Liang Huaguo |
| 3 | Hybrid Aging Delay Model Considering the PBTI and TDDB | 期刊论文 | Yong Miao;Mao-Xiang Yi;Gui-Mao Zhang;Da-Wen Xu |
| 4 | 一种低开销的抗SEU锁存器 | 期刊论文 | 方文庆;梁华国;黄正峰 |
| 5 | A Multi-Vth technique based on potential critical paths for NBTI effect and leakage tradeoff | 会议论文 | Zhang Yao;Yi Maoxiang;Wang Keke;Wu Qingwu;Ding Li;Liang Huaguo |
| 6 | NoC中相邻虚通道循环共享的VOQ容错路由器设计 | 期刊论文 | 欧阳一鸣;王悄;梁华国;易茂祥;汪秀敏 |
| 7 | A low-leakage and NBTI-mitigated N-type domino logic | 期刊论文 | Liang Huaguo;Xu Hui;Huang Zhengfeng;Yi Maoxiang |
| 8 | 考虑多时钟周期瞬态脉冲叠加的锁存窗屏蔽模型 | 期刊论文 | 闫爱斌;梁华国;黄正峰;蒋翠云;易茂祥 |
| 9 | HLDTL: High-performance, low-cost, and double node upset tolerant latch design | 会议论文 | Yan Aibin;Huang Zhengfeng;Yi Maoxiang;Cui Jie;Liang Huaguo |
| 10 | 考虑NBTI的动态休眠管尺寸电源门控设计 | 期刊论文 | 袁野;易茂祥;张林;甘应贤;黄正峰;徐辉 |
| 11 | 一种容软错误的可编程老化预测传感器 | 期刊论文 | 汪康之;徐辉;洪炎;易茂祥 |
| 12 | 基于时空冗余的容软错误锁存器设计 | 期刊论文 | 黄正峰;申思远;彭小飞;闫爱斌;鲁迎春 |
| 13 | Effective Critical Gate Identification for Mitigating Circuit Aging Using Gate Replacement | 会议论文 | Wu Qingwu;Yi Maoxiang;Yuan Shiqi;Zhang Yao;Ding Li;Liang Huaguo |
| 14 | Optimized Mid-bond Order for 3D-Stacked ICs Considering Failed Bonding | 期刊论文 | LIANG Huaguo;CHANG Hao;LI Yang;WANG Wei;CHEN Tian;XU Hui |
| 15 | NBTI Aging Analysis and Aging-Tolerant Design of p-type Domino AND Gates | 会议论文 | Zhang Lin;Yi Maoxiang;Yuan Ye;Gan Yingxian;Xu Hui;Liang Huaguo |
| 16 | 协同输入向量控制与门替换技术缓解电路NBTI老化 | 期刊论文 | 易茂祥;朱炯;张桂茂;黄正峰;欧阳一鸣;梁华国 |
| 17 | 考虑单粒子多瞬态故障的数字电路失效概率评估 | 期刊论文 | 梁华国;袁德冉;闫爱斌;黄正峰 |
| 18 | Concurrent core test based on partial test set reusing | 会议论文 | Huang Xi Lei;Yi Mao Xiang;Wang Lin;Liang Hua Guo |
| 19 | 基于电路故障预测的高速老化感应器 | 期刊论文 | 王超;徐辉;黄正峰;易茂祥 |
| 20 | 一种故障通道隔离的低开销容错路由器设计 | 期刊论文 | 欧阳一鸣;陈义军;梁华国;易茂祥;李建华 |
| 21 | AFTER: Asynchronous Fault-Tolerant Router Design in Network-on-Chip | 期刊论文 | Ouyang Yiming;Chen Qi;Wang Xiumin;Ouyang Xiaoye;Liang Huaguo;Du Gaoming |
| 22 | 电流检测型四段式线性高压恒流LED驱动芯片 | 期刊论文 | 徐福彬;邓红辉;易茂祥 |
| 23 | 缓解电路NBTI效应的改进门替换技术 | 期刊论文 | 朱炯;易茂祥;张姚;胡林聪;刘小红;程龙;黄正峰 |
| 24 | 双硅通孔在线容错方案 | 期刊论文 | 梁华国;李黄祺;常郝;刘永;欧阳一鸣 |
| 25 | Time-Efficient Identification Method for Aging Critical GatesConsidering Topological Connection | 期刊论文 | Tian-Song Yu;Hua-Guo Liang;Da-Wen Xu;Lu-Sheng Wang |
| 26 | 并行折叠计数器状态向量选择生成 | 期刊论文 | 易茂祥;余成林;方祥圣;黄正峰;欧阳一鸣;梁华国 |
| 27 | MTTF-Aware reliability task scheduling for heterogeneous multicore system | 会议论文 | Liang Huaguo;Dai Yangyang;Yi Maoxiang;Xu Dawen;Huang Zhengfeng |
| 28 | NoC中基于链路分配的无冲突测试调度方法 | 专利 | 欧阳一鸣;杨鑫;易茂祥;梁华国;黄正峰;詹文发;常郝 |
| 29 | High-performance, low-cost, and highly reliable radiation hardened latch design | 期刊论文 | Yan Aibin;Liang Huaguo;Huang Zhengfeng;Jiang Cuiyun |
| 30 | A TSV Fault-Tolerant Scheme Based on Failure Classificationin 3D-NoC | 期刊论文 | Ouyang Yiming;Da Jian;Wang Xiumin;Han Qianqian;Liang Huaguo;Du Gaoming |
| 31 | 基于故障粒度划分的NoC链路自适应容错方法 | 期刊论文 | 欧阳一鸣;王悄;梁华国;易茂祥;黄正峰;詹文法 |
| 32 | Highly Robust Double Node Upset Resilient Hardened Latch Design | 期刊论文 | Liang Huaguo;Li Xin;Huang Zhengfeng;Yan Aibin;Xu Xiumin |
| 33 | An ultra-low quiescent current output capacitor-less low-dropout regulator with a novel slew-rate-enhanced circuit | 会议论文 | Yang Chen;Yizhong Yang;Longjie Du;Guangjun Xie;Xin Cheng;Maoxiang Yi |
| 34 | Novel Low Cost and Double Node Upset Tolerant Latch Design for Nanoscale CMOS Technology | 会议论文 | Aibin Yan;Zhengfeng Huang;Xiangsheng Fang;Xiaolin Xu;Huaguo Liang |
| 35 | NBTI Mitigation by M-IVC with Input Duty Cycle and Randomness Constraints | 会议论文 | Yi Maoxiang;Liu Xiaohong;Wu Qingwu;Ni Tianming;Huang Zhengfeng;Liang Huaguo |
| 36 | 缓解异构MPSoC电迁移效应的任务调度算法 | 期刊论文 | 梁华国;李军;许达文;许晓琳;靳松 |
| 37 | 一种针对门替换的电路老化关键门识别方法 | 期刊论文 | 张桂茂;易茂祥;缪永;黄正峰;梁华国 |
| 38 | 65nm工艺下单粒子加固锁存器设计 | 期刊论文 | 黄正峰;钱栋良;梁华国;易茂祥;欧阳一鸣;闫爱斌 |
| 39 | NoC中基于路径多样性的交叉开关细粒度容错设计 | 期刊论文 | 欧阳一鸣;笪健;李建华;梁华国;黄正峰;杜高明 |
| 40 | 应用基于双权值的门替换方法缓解电路老化 | 期刊论文 | 朱炯;易茂祥;张姚;胡林聪;刘小红;梁华国 |
| 41 | NBTI-induced Circuit Aging Optimization by Protectability-aware Gate Replacement Technique | 会议论文 | Zhang Guimao;Yi Maoxiang;Miao Yong;Xu Dawen;Liang Huaguo |
| 42 | 针对瞬时故障和间歇性故障的NoC链路容错方法 | 期刊论文 | 欧阳一鸣;孙成龙;李建华;梁华国;黄正峰;杜高明 |
| 43 | 一种延缓老化并容忍软错误的集成电路选择性加固方法 | 专利 | 梁华国;闫爱斌;黄正峰;蒋翠云;易茂祥;许晓琳;方祥圣 |
| 44 | 基于自振荡回路的电路老化测试方法 | 专利 | 梁华国;严鲁明;蒋翠云;黄正峰;易茂祥;欧阳一鸣;陈田;刘军 |
| 45 | 基于环形振荡器的绑定前硅通孔测试 | 期刊论文 | 张鹰;梁华国;常郝;刘永;李黄褀 |
| 46 | 考虑NBTI空穴俘获释放机制的组合逻辑门延迟预测 | 期刊论文 | 李军;许达文;靳松;梁华国 |
| 47 | A highly reliable butterfly PUF in SRAM-based FPGAs | 期刊论文 | Xu Xiumin;Liang Huaguo;Huang Zhengfeng;Jiang Cuiyun;Ouyang Yiming;Fang Xiangsheng;Ni Tianming;Yi Maoxiang |
| 48 | 一种用于嵌入式软核的动态可重构容错方案 | 期刊论文 | 谭龙生;梁华国;王存 |
| 49 | Cores-unified test application for hierarchical SoC | 会议论文 | Wang Lin;Yi Maoxiang;Huang Xilei;Yu Chenglin |
| 50 | A single event transient detector in SRAM-based FPGAs | 期刊论文 | Xu Xiumin;Liang Huaguo;Huang Zhengfeng;Jiang Cuiyun;Lu Yingchun;Yan Aibin;Ni Tianming;Yi Maoxiang |
| 51 | 考虑输入占空比和随机性的M-IVC缓解电路老化 | 期刊论文 | 易茂祥;刘小红;吴清焐;朱炯;胡林聪;梁华国 |
| 52 | 基于C单元反馈回路的容SEU锁存器设计 | 期刊论文 | 黄正峰;彭小飞;鲁迎春 |
| 53 | A Methodology for Characterization of SET Propagation in SRAM-Based FPGAs | 期刊论文 | Liang Huaguo;Xu Xiumin;Huang Zhengfeng;Jiang Cuiyun;Lu Yingchun;Yan Aibin;Ni Tianming;Ouyang Yiming;Yi Maoxiang |
| 54 | 一种基于FPGA的微处理器软错误敏感性分析方法 | 期刊论文 | 梁华国;孙红云;孙骏;黄正峰;徐秀敏;易茂祥;欧阳一鸣;鲁迎春;闫爱斌 |
| 55 | 基于硅通孔绑定后三维芯片测试调度优化方案 | 期刊论文 | 聂牧;梁华国;卞景昌;倪天明;徐秀敏;黄正峰 |
| 56 | 协同缓解PBTI和HCI老化效应的输入重排方法 | 期刊论文 | 甘应贤;易茂祥;张林;袁野;欧阳一鸣;梁华国 |
| 57 | 40 nm CMOS工艺下的低功耗容软错误锁存器 | 期刊论文 | 黄正峰;王世超;欧阳一鸣;易茂祥;梁华国 |
| 58 | Fault-tolerant method of critical communication components in 3D NoC:A review | 期刊论文 | Ouyang Yi-Ming;Sun Cheng-Long;Chen Qi;Liang Hua-Guo;Yi Mao-Xiang;Huang Zheng-Feng;Yan Ai-Bin |
| 59 | An Output-Capacitorless Ultra-Low Power Low-Dropout Regulator | 期刊论文 | Cheng Xin;Liang Hongyu;Du Longjie;Zhang Zhang;Yi Maoxiang;Xie Guangjun |
| 60 | 一种可编程的老化感知触发器设计 | 期刊论文 | 徐辉;陈玲;汪康之 |
| 61 | 静态随机存储器双向互锁存储单元的抗老化设计 | 期刊论文 | 刘士兴;范对鹏;程龙;王世超;丁力;易茂祥 |
| 62 | 基于改进CAF-WAS的绑定前硅通孔测试 | 期刊论文 | 卞景昌;梁华国;聂牧;倪天明;徐秀敏;黄正峰 |
| 63 | 考虑NBTI效应的组合电路软错误率计算方法 | 期刊论文 | 闫爱斌;梁华国;黄正峰;蒋翠云 |
| 64 | 选择序列的并行折叠计数器 | 期刊论文 | 李扬;梁华国;蒋翠云;常郝;易茂祥;方祥圣;杨彬 |
| 65 | 基于多通信半径的加权DV-Hop定位算法 | 期刊论文 | 刘士兴;黄俊杰;刘宏银;易茂祥 |
| 66 | 抗单粒子翻转和单粒子瞬态脉冲的锁存器 | 专利 | 黄正峰;彭小飞;鲁迎春;梁华国;易茂祥;欧阳一鸣;闫爱斌 |
| 67 | 具有快速瞬态响应的电压模式Buck变换器 | 期刊论文 | 方晓斌;解光军;张章;易茂祥;金传恩;程心 |
| 68 | Scan Tree Design for 3-D ICs with Constraint of Leaf Nodes Number | 期刊论文 | Jingyun Hu;Maoxiang Yi;Jun Liu |
| 69 | 基于电荷俘获-释放机制的电路PBTI老化建模 | 期刊论文 | 李扬;易茂祥;缪永;邵川;丁力 |
| 70 | 基于分布式游标法的2.5DIC传输线测试 | 期刊论文 | 卞景昌;梁华国;倪天明;聂牧;黄正峰;易茂祥 |
| 71 | 一种低开销加固锁存器的设计 | 期刊论文 | 黄正峰;倪涛;易茂祥 |
| 72 | 考虑预采样的时序错误检测与自恢复方法 | 期刊论文 | 郑旭光;梁华国;易茂祥;蒋翠云;范磊;欧阳一鸣 |
| 73 | 一种基于电力线的现场总线设计与仿真 | 期刊论文 | 易茂祥;陶金;吴友杰;吴格;余成林;梁华国 |
| 74 | 基于故障插入的电路抗老化输入矢量生成研究 | 期刊论文 | 刘士兴;程龙;范对鹏;周光辉;易茂祥 |
| 75 | An SEU resilient, SET filterable and cost effective latch in presence of PVT variations | 期刊论文 | Yan Aibin;Liang Huaguo;Huang Zhengfeng;Jiang Cuiyun;Ouyang Yiming;Li Xuejun |
| 76 | NoC中基于路径树的无冲突测试调度方法 | 期刊论文 | 欧阳一鸣;杨鑫;梁华国;易茂祥;高妍妍 |
| 77 | 针对路径故障与局部拥塞的NoC容错路由算法 | 期刊论文 | 欧阳一鸣;何鑫城;梁华国;易茂祥;杜高明;安鑫 |
| 78 | 一种基于串行总线结构的接口电路及通信协议 | 专利 | 易茂祥;梁华国 |
| 79 | Co-Mitigating Circuit PBTI and HCI Aging Considering NMOS Transistor Stacking Effect | 会议论文 | Yi Maoxiang;Gan Yingxian;Huang Zhengfeng;Liang Huaguo |
| 80 | 基于输入向量控制和传输门插入的电路 NBTI老化缓解 | 会议论文 | 胡林聪;易茂祥;丁力;朱炯;刘小红 |
| 81 | 一种并行折叠计数器状态向量的选择生成方法及其硬件电路 | 专利 | 易茂祥;余成林;方祥圣;梁华国;欧阳一鸣;黄正峰 |
| 82 | 采用双阈值配置的抗老化N型多米诺或门 | 期刊论文 | 易茂祥;丁力;张林;李扬;黄正峰 |
| 83 | A High Performance SEU Tolerant Latch | 期刊论文 | Huang Zhengfeng;Liang Huaguo;Hellebrand Sybille |
| 84 | Concurrent Core Test Based on Partial Test Set Reusing | 期刊论文 | Xilei Huang;Maoxiang Yi;Lin Wang;HuaGuo Liang |
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